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產品簡介:
儀器中文名稱: X射線熒光光譜儀 儀器所在城市: 長沙市 儀器型號規格: PW2440 生產廠商: 荷蘭飛利浦 國別: 荷蘭 購置日期(年): 2003-6-1 使用日期(年): 2003-7-1 主要技術指標: 檢出限:0.0003%(Cr) 示值誤差:4.3*10-6 測量重復性:0.005% 綜合穩定性:(0.04%-0.0...
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儀器中文名稱: X射線熒光光譜儀
儀器所在城市: 長沙市
儀器型號規格: PW2440
生產廠商: 荷蘭飛利浦
國別: 荷蘭
購置日期(年): 2003-6-1
使用日期(年): 2003-7-1
主要技術指標: 檢出限:0.0003%(Cr) 示值誤差:4.3*10-6 測量重復性:0.005% 綜合穩定性:(0.04%-0.05%) 特別快的分析速度 :2秒鐘一個元素
主要附件及功能: 地質樣品定量 定性分析
本單位該儀器主要應用領域:地質礦產
儀器負責人: 肖燕
電話: 18975134808
E-mail: accexp@gmail.com
檢測項目: 地質樣品定量 定性分析
收費標準: 面議
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