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紅外熱像儀為什么能診斷電容器故障？
2012-11-11
導(dǎo)致電容器故障的原因有哪些？
一般導(dǎo)致電容器發(fā)生故障有下列原因：
1、接線不牢固或遭外力破壞。
2、過(guò)載使用：a）安裝處所周?chē)鷾囟冗^(guò)高，通風(fēng)不良。b）過(guò)電壓運(yùn)轉(zhuǎn)。使用電壓含電源電壓變動(dòng)、諧波電壓、串聯(lián)電抗器后的電壓上升，超過(guò)了最高過(guò)電壓限值。c）過(guò)電流運(yùn)轉(zhuǎn)。電容器的充電電流含有諧波狀況下，該電流的有效值大于容許過(guò)電流限值。
3、老化故障。電容器使用多年后，由于絕緣強(qiáng)度老化和內(nèi)部游離等因素，造成電氣絕緣強(qiáng)度降低而引起的損壞。
上述故障均帶來(lái)溫度的變化，所以對(duì)電容器柜進(jìn)行定期巡檢是預(yù)防電容器發(fā)生爆裂甚至爆炸事故的產(chǎn)生的有效方式。
紅外熱像儀為什么能診斷電容器故障？
電容器內(nèi)部的電介質(zhì)或載流導(dǎo)體附近電氣絕緣的電介質(zhì)在交流電壓作用下引起的能量損耗 (介質(zhì)損耗)，即使在正常狀態(tài)下，設(shè)備內(nèi)部的介質(zhì)和導(dǎo)體周?chē)慕^緣介質(zhì)在交流電壓作用下，也會(huì)有介質(zhì)損耗發(fā)熱。當(dāng)絕緣介質(zhì)的絕緣性能出現(xiàn)缺陷時(shí)，會(huì)引起介質(zhì)損耗增大，電容值變大，導(dǎo)致介質(zhì)損耗發(fā)熱功率增加，從而引起設(shè)備運(yùn)行溫度增加。
一般導(dǎo)致電容器發(fā)生故障有下列原因：
1、接線不牢固或遭外力破壞。
2、過(guò)載使用：a）安裝處所周?chē)鷾囟冗^(guò)高，通風(fēng)不良。b）過(guò)電壓運(yùn)轉(zhuǎn)。使用電壓含電源電壓變動(dòng)、諧波電壓、串聯(lián)電抗器后的電壓上升，超過(guò)了最高過(guò)電壓限值。c）過(guò)電流運(yùn)轉(zhuǎn)。電容器的充電電流含有諧波狀況下，該電流的有效值大于容許過(guò)電流限值。
3、老化故障。電容器使用多年后，由于絕緣強(qiáng)度老化和內(nèi)部游離等因素，造成電氣絕緣強(qiáng)度降低而引起的損壞。
上述故障均帶來(lái)溫度的變化，所以對(duì)電容器柜進(jìn)行定期巡檢是預(yù)防電容器發(fā)生爆裂甚至爆炸事故的產(chǎn)生的有效方式。
紅外熱像儀為什么能診斷電容器故障？
電容器內(nèi)部的電介質(zhì)或載流導(dǎo)體附近電氣絕緣的電介質(zhì)在交流電壓作用下引起的能量損耗 (介質(zhì)損耗)，即使在正常狀態(tài)下，設(shè)備內(nèi)部的介質(zhì)和導(dǎo)體周?chē)慕^緣介質(zhì)在交流電壓作用下，也會(huì)有介質(zhì)損耗發(fā)熱。當(dāng)絕緣介質(zhì)的絕緣性能出現(xiàn)缺陷時(shí)，會(huì)引起介質(zhì)損耗增大，電容值變大，導(dǎo)致介質(zhì)損耗發(fā)熱功率增加，從而引起設(shè)備運(yùn)行溫度增加。
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