布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀
名稱：其他儀器與工具
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簡介：布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀解決方案通過TXRF（全反射X射線熒光分析）監測晶圓表面上的痕量金屬污染物。布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀是一種快速、無損的表面敏感技術，無需使用液體...
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- 產品介紹
布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀解決方案通過TXRF（全反射X射線熒光分析）監測晶圓表面上的痕量金屬污染物。布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀是一種快速、無損的表面敏感技術，無需使用液體。
布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀具備完整映射功能，可實現0毫米邊緣排除測量。布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀包含多個用于最優化激發輕元素、中等元素和重元素的X射線源 。直觀的用戶界面(PTO)可確保工具實現故障保護性運作。全自動晶圓傳送裝置可接受300至450毫米的晶圓。此外，系統符合SEMI S2、S8和CE標準。
如果您需要布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
如果您需要布魯克Bruker S8 FABLINE-T 監測表面分析儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
