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Keithley吉時利 半導體參數分析儀4200A-SCS

名稱:其他儀器與工具

品牌:

型號:

簡介:使用吉時利4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀) 加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能領先電學特性半導體參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電...

  • 產品介紹
使用吉時利4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀) 加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能領先電學特性半導體參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電壓曲線測試(CV曲線測試)和超快脈沖IV曲線測量。


直流電流-電壓(I-V) 范圍

10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V
 

電容-電壓(C-V) 范圍

1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏置
 

脈沖 I-V范圍

±40 V (80 V p-p),±800 mA
200 MSa/s,5 ns 采樣率

 

Keithley吉時利 半導體參數分析儀4200A-SCS主要性能指標

I-V 源測量單元(SMU)

  • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模塊
  • 100 fA測量分辨率
  • 選配前端放大器提供了 10 aA測量分辨率
  • 10 mHz - 10 Hz 超低頻率電容測量
  • 100 μF負載電容
  • 四象限操作
  • 2 線或 4 線連接


C-V 多頻率電容單元(CVU)

  • AC 阻抗測量 (C-V, C-f, C-t)
  • 1 kHz - 10 MHz 頻率范圍
  • ± 30 V (60 V差分)內置DC偏置源,可以擴展到± 210 V(420 V 差分)
  • 選配 CVIV 多通道開關,在 I-V 測量和 C-V 測量之間簡便切換脈沖式I-V 超快速脈沖測量單元(PMU)
  • 兩個獨立的或同步的高速脈沖 I-V 源和測量通道
  • 200 MSa/s,5 ns 采樣率
  • ±40 V (80 V p-p),±800 mA
  • 瞬態波形捕獲模式
  • 任意波形發生器 Segment ARB® 模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率


高壓脈沖發生器單元(PGU)

  • 兩個高速脈沖電壓源通道
  • ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
  • 任意波形發生器 Segment ARB®模式,支持多電平脈沖波形,10 ns 可編程分辨率I-V/C-V 多通道開關模塊 (CVIV)
  • 在 I-V測量和 C-V 測量之間簡便切換,無需重新布線或抬起探針
  • 把 C-V測量移動到任意端子,無需重新布線或抬起探針遠程前端放大器/ 開關模塊(RPM)
  • 在 I-V 測量、C-V 測量和超快速脈沖 I-V 測量之間自動切換
  • 把 4225-PMU的電流靈敏度擴展到數十皮安
  • 降低電纜電容效應




 

參數查看,快速清晰。

4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現無與倫比的測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導,并讓您對最終結果充滿信息。

特點

  • 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件
  • 立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
  • 自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數

準確的 C-V 表征

使用吉時利最新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業領先的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。

特點

  • 同類產品中首款能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
  • 1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz
  • 測量電容、電導和導納
  • 使用 4200A-CVIV 多路開關最多可測量四個通道

 

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

  • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
  • 用戶可配置低電流功能
  • 個性化輸出通道名稱
  • 查看實時測試狀態

穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。

特點

  • 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
  • 進行 飛安測量
  • 多達 9 個 SMU 通道
  • 針對長電纜或大卡盤進行了優化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

  • “點擊”測試定序
  • “手動”探測器模式測試探測器功能
  • 假探測器模式無需移除命令即可實現調試


 

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