牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 200
名稱：其他儀器與工具
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簡介：牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 200是一款安裝在FIB和SEM端口上的納米操縱手，內置了一個100nm閉環反饋控制器，具有準確、靈活、易用等特點。使用閉環系統進行操作，完全獨立于電鏡樣品臺定位，從而為樣品操作提供了額外的自由度。該...
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- 產品介紹
牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 200是一款安裝在FIB和SEM端口上的納米操縱手，內置了一個100nm閉環反饋控制器，具有準確、靈活、易用等特點。使用閉環系統進行操作，完全獨立于電鏡樣品臺定位，從而為樣品操作提供了額外的自由度。該專利利用定制的樣品臺和探針組合（CSP）可將樣品重新定位到特定角度。
牛津儀器 納米操縱手OmniProbe 200以其有效性和易于操作和使用而聞名，用戶可以：
- 中和樣品表面富集電荷；
- 測量納米結構的電學性能（EBIC，EBAC，電流探測）；
- 在FIB中進行TEM樣品制備，包括平面樣品和背切樣品；
- 在SEM中制被以用于TEM和原子探針觀察；
- 制備用于TEM、EDS及其它分析所需的高質量樣品；
- 冷凍提取。
特色和優點
- 包括第8代具有創新性的先進技術；
- 實現從納米線操作到TEM樣品制備，再到電學和機械測量的各種應用；
- 3軸樣平臺可以沿任意方向線性移動（全向性）；
- 在任何樣品傾斜角度下都能實現正交導航；
- 將樣品快速旋轉到特定角度；
- 可以大范圍內執行平穩而精確的操作；
- 即使在視野外也始終知道探頭尖端的位置；
- 在任意端口安裝都可以預測移動行為；
- 可以輕松地調出存儲位置，減少操作員疲勞，并提高成功率；
- 避免碰撞；
- 氣動插入/回縮鏈接到電鏡軟件（取決于OEM）；
- 內置能力，可為針施加最大+/- 10 V的偏壓，用于電壓襯度成像或其他應用。
同軸旋轉功能
同軸旋轉分辨率可達0.1度，使樣品在旋轉期間一直處于相當于60um水平視場的放大倍率下成像。
- 可以安全的完成樣品旋轉，沒有任何碰撞的風險。每次旋轉后，不需要重新定位樣品或探針尖端。
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在FIB中，這保證了對針尖打磨的速率及簡易性，以改善電學特性表征的可靠性及對20nm以下特征樣品尺寸進行操作時的精確性。
自動化系統
- 電腦和顯示器；
- 2U機架式以太網控制器；
- 帶有100nm線性反饋的3軸樣平臺；
- 運動控制軟件界面；
- 用戶手冊和安裝指南。
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