日立Hitachi HF5000 球差校正透射電鏡具有高穩定冷場發射電子槍,自動球差校正器,可一鍵操作實現自動球差校正,HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃;可配置EDS雙探頭,固體角最大可達2.0sr;具備TEM、STEM,SEM和電子衍射等多種圖像觀測模式;鏡筒和樣品臺經過了重新設計,顯著提升了儀器的性能和穩定性。日立Hitachi HF5000 球差校正透射電鏡將是材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領域的可靠助手。
日立Hitachi HF5000 球差校正透射電鏡特點:高度自動化球差校正,盡量減少人員介入,適用于繁忙的分析測試中心或設備平臺;三位一體呈現(TEM、STEM、SEM),內部結構成像和表面結構成像可同時進行同時獲取;EDS超大球面角,無窗口探頭。可實現快速,高靈敏度化學成分分析;4、前瞻性平臺總體設計,為性能擴增預留選項,例如可擴增為氣體環境電鏡。
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