天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀
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簡介：天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K...
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天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的權威部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據行業需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測必備的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶。應用于古陶瓷、古青銅器、古首飾、鍍層測厚。
以下是艾克賽普為您介紹天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.gffae.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
型號：EDX8000L
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量最薄至0.01微米
測量對象狀態：粉末、固體、液體
測量時間：30s—200s
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V
消耗功率：200W
環境溫度: 15-26℃
相對濕度: ≤70%
天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀的標準配置：超薄窗大面積的原裝進口Fast SDD探測器；數字多道系統；可自動切換型準直器和濾光片；光路增強系統；內置高清晰攝像頭；加強的金屬元素感度分析器；智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。面光源放大；電路高低壓電源；X光管；多變量非線性回歸程序；相互獨立的基體效應校正模型。三重安全保護模式；外觀尺寸： 800×710×1360 mm；樣品腔尺寸：590×550×600mm；重量：280kg。
如果您需要天瑞Skyray EDX8000L X熒光考古分析儀及天瑞品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
