秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡
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簡介：秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡是TESCAN最新S8000系列掃描電鏡的第一個新成員，是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統，秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具...
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秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡是TESCAN最新S8000系列掃描電鏡的第一個新成員，是一款超高分辨雙束FIB-SEM系統，秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡可以提供無與倫比的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，并能以極佳的精度、效率完成復雜的納米加工和操作，可滿足現今工業研發和學術界研究的所有需求。
秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡的優點：新一代鏡筒內電子加速、減速技術，保證了復雜樣品的低電壓高分辨觀測能力；首次配置的靜電-電磁復合物鏡，物鏡無磁場外泄，實現磁性樣品高分辨成像及分析；配置4個新一代探測器，可實現9種圖像觀測，對樣品信息的采集更加全面；配置大型樣品室，有超過20個擴展接口，為原位觀測、分析創造了良好的工作環境；可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并獨家實現與TOF-SIMS、Raman聯用；新一代操作軟件和自動功能，FIB鏡筒具有全自動的離子鏡筒對中，極大簡化了操作。
以下是艾克賽普為您介紹秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.gffae.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
新一代 Orage™ Ga FIB鏡筒，適用于各類具有挑戰性的納米加工任務：創新的Orage™ Ga FIB鏡筒配有最先進的離子槍和離子光學鏡筒，使得秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡成為了世界頂級的樣品制備和納米圖形成型的儀器。秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡束流可達100nA，具有超快速的加工能力，新穎的SmartMill高速切割功能，使得加工效率提升一倍。秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡離子能量最低可達500eV，擁有更優秀的低壓樣品制備能力，可以快速制備無損超薄TEM樣品。可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件，并獨家實現與TOF-SIMS、Raman一體化。
新一代OptiGIS™氣體注入系統：秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡有兩種氣體注入系統可供選擇，標準的5針-GIS和新一代OptiGIS單針-GIS，單針的OptiGIS支持通過更換氣罐來更換化學氣體，避免了以往多針氣體注入系統樣品倉內占用空間大的問題。兩種氣體注入系統均可以選擇多種沉積氣體，其中W、Pt、C等用于導電材料沉積，SiOx用于絕緣材料沉積，XeF2、H2O等用于增強刻蝕，或其它定制氣體。
新一代Essence™操作軟件，更簡單、高效的操作平臺：秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡可配置最新的多種探測器，新操作軟件極大簡化了用戶界面，能快速訪問各主要功能，減少了繁瑣的下單菜單操作，并優化了操作流程向導，易于學習，兼容多用戶需求，可根據工作需要定制操作界面。新穎的樣品艙內3D空間位置和移動軌跡模擬功能，可避免誤操作，造成碰撞。
集成多項創新性設計，拓展新應用領域的利器：秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡是TESCAN新一代FIB-SEM的首個成員，集成了BrightBeam™ SEM鏡筒、Orage™ GaFIB鏡筒、OptiGIS氣體注入系統等多項創新設計，在高分辨能力、原位應用擴展能力和分析擴展能力方面達到了業內頂級水平，此外新一代操作流程和軟件也給使用者帶來更舒適、高效的體驗。
如果您需要秦思肯TESCAN S8000G FIB-SEM 掃描電鏡及秦思肯品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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