布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀是布魯克公司最新推出的一款微區X射線熒光光譜儀，依據ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進行無損分析。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X...
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布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀是布魯克公司最新推出的一款微區X射線熒光光譜儀，依據ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進行無損分析。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀采用開槽設計，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀采用全新的、世界領先的XSpect Pro軟件進行控制。
PCB分析的理想解決方案。
主要特性：開槽構型，帶可伸長的“超大尺寸”樣品臺；可以調節槽縫間隙（10或20毫米）；設有大型、耐用的樣品托盤，用于樣品定位；全新優化XSpect Pro操作軟件；最先進的XData軟件用于應用程序，標準樣品與數據庫管理；可自定義設置用戶界面和測試結果界面；具備波譜自動保存功能，用于測量后結果的再處理以及存檔；用戶設定公差，可以方便地判定“合格/不合格”；“峰值查找器”，用于定性分析未知樣品；軟件含有測試報告模板以供客戶編輯使用；配置工業強度的腳踏開關，用于“開始/停止”測量（可選項）；可完全設置SPC軟件，配合客戶工藝需求（可選項）；儀器設計簡潔堅固，只需一條USB電纜與PC連接。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.gffae.cn，聯系電話：0731-84284278 84284378。
技術參數：M2 BLIZZARD 的兩種探測器選項。可選用比例計數器（PC）或 高分辨率硅漂移探測器（SDD）。激發：微焦點，高性能，帶側窗，鎢靶。高電壓：50 kV，50W。探測器：大面積正比計數器，感應面積1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-K）。選配探測器：高性能Peltier冷卻XFlash硅漂移探測器，感應面積30mm2，能量分辨率<150eV，（Mn-Ka）。光斑尺寸：固定或4個自由切換，?0.1到1.5mm；其他準直器：例如槽式。樣品視圖：高分辨率彩色攝像系統，放大倍數~30倍。樣品臺：手動塑料樣品托盤，Z軸自動聚焦，行程:30mm。定量分析：總體分析：基于標樣的經驗系數法模式，無標樣的FP法（基本參數法）模式；鍍層分析：FP-基本參數法模式。供電：110/230 VAC，50/60 Hz，最大功率150W。尺寸（寬x深x高）為1055x688x430mm。重量75kg。
如果你需要布魯克Bruker M2 BLIZZARD X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
