捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
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簡介：捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡有著精煉的外型，全新的視覺感受。為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀方便。JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的...
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捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡有著精煉的外型，全新的視覺感受。為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀方便。JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高。現在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統-“Quad-Lens condenser system”，通過分別控制電子束強度和匯聚角，能滿足各種研究的需求。
EM-F200可以實現大視野的STEM-EELS分析，該設備在常規的照明系統的電子束掃描功能之上，增加了新的掃描系統-“Advanced Scan System” 即成像系統的電子束掃描功能（選配）。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅動），能在寬動態范圍移動視野-從樣品的整個柵網視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。插入和拔出樣品桿，對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在指定的位置上，只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡能安裝高穩定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發射電子槍（選配），該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態分析，高亮度的電子束縮短了分析時間，并且還降低了來自光源的色差，實現了高分辨率的觀察。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。
捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡是第一個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統能將能源消耗降低到正常模式時的1/5，可以在裝置不運行時，以最小的能耗保持著電鏡的最佳條件。該設備具有排程功能，能在指定的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態。
| TEM點分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
| STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷場槍 | 0.16 nm @冷場槍 |
| 0.16 nm @熱場槍 | 0.19 nm @熱場槍 | |
| 加速電壓 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
| 主要選配件 | 能譜儀（EDS）、電子能量損失譜儀（EELS）、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統 | |
捷歐路JEOL JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡視頻介紹 點擊下面鏈接可觀看視頻
http://www.jeol.com.cn/場發射透射電鏡JEM-F200以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
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