布魯克Bruker VERTEX 70v FT-IR 研究光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。極具創新意義的設計成就了該系列譜儀極佳的靈活性和卓越的性能。數據采集使用delta-sigma自激型數/模轉換器，該轉換器具備真正的24位...
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- 產品介紹
VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀
VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。極具創新意義的設計成就了該系列譜儀極佳的靈活性和卓越的性能。數據采集使用delta-sigma自激型數/模轉換器，該轉換器具備真正的24位ADC動態范圍。布魯克先進專利技術DigiTect將此數模轉換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。最大限度地避免了外界模擬信號對光譜的干擾，確保了出色的信噪比。
全真空光學臺設計
其全真空的光學設計，使VERTEX 70v在中紅外、近紅外及遠紅外譜區具備最高的靈敏度，使用戶無需再擔心水蒸氣或二氧化碳的吸收會干擾或覆蓋譜圖中極弱的特征信號。該真空譜儀已被廣泛應用于納米科學領域，并成功獲取了亞單分子層薄膜的信息。
BRUKER FM FIR-MIR 光譜
獨特的布魯克FM技術，您只需一次測量，即可獲得6000 cm-1 至 50 cm-1 的中遠紅外波段全譜。擁有它，無需再轉換任何光學元件。
寬光譜范圍
通過采用不同的光學配件 VERTEX 70v 可以覆蓋從遠紅外 10 cm-1 到紫外光區 28.000 cm-1 的超寬光譜區域。永久準直的 RockSolidTM 高性能干涉儀使不同譜區的切換變得十分快捷簡易，無需重新調整光路準直。
人工智能系統
人工智能系統包含自動識別測量附件、自動識別光學配件、自動調用及檢查測量參數，使得傅立葉紅外光譜測量變得更簡單、更快速且更可靠。另外，實時在線監控系統徹底簡化了對儀器工作狀態和性能指標的監測工作。一體化的軟件包將全面支持上述功能。
即插即用：使用簡便
無論何時何地，只要插上電源，連接以太網，VERTEX 70v光譜儀即可開始正常工作。VERTEX 70v光譜儀采用了以太網式連接，客戶可以通過局域網或互聯網對譜儀進行遠程操控。
VERTEX 70v 研究級傅立葉變換紅外光譜儀以其卓越的性能和無以倫比的靈活性，成為當前常規分析應用以及尖端科學研究的首選。
VERTEX 70v真空光譜儀非常適用于需要高靈敏度、高穩定性和高時間分辨率的研究應用。低至遠紅外/太赫茲的光譜范圍，使之還適用于工業領域的特定應用。多功能VERTEX 70v系統通過與適當的附件及相應的測試技術相結合，可為FTIR光譜分析領域幾乎所有需求提供解決方案。
研發
用于時間分辨以及幅度調制（AM）相位調制（PM）光譜的連續和步進掃描技術 (步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜 TRS)
超高真空中的FT-IR光譜分析
用于電極表面和電解質的原位研究的FT-IR光譜電化學
蛋白質水溶液研究 (CONFOCHECK)
確定分子的絕對構型 (VCD)
制藥
通對藥物產品的穩定性和揮發物含量進行表征 （TGA-FT-IR）
遠紅外譜區區分活性藥物成分的多晶型物 （BRUKER FM）
聚合物與化學
遠紅外譜區識別聚合物復合材料中的無機填料 （BRUKER FM）
聚合物動態和流變學研究
測定揮發性化合物及表征熱分解過程 （TGA-FTIR）
反應監測和反應控制 (中紅外光纖探頭)
識別無機礦物質和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測與表征
結合偏振調制進行表面分析 （PM-IRRAS）
材料科學
光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質和深度剖析
材料的發射行為表征
半導體
硅晶圓中氧和碳含量的測定進行質量控制
外部附件、源和探測器
VERTEX 70v 真空光譜儀配備五個光束出口端口和兩個光束輸入端口，可隨時升級具有外部測量附件、源和探測器的系統。這包括以下內容：
用于 VCD 和 PM-IRRAS 的 PMA 50 偏振調制附件
PL II 光致發光模塊
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
TGA-FT-IR 聯用
HYPERION 系列FTIR顯微鏡
HYPERION 3000 FT-IR 成像系統
HTS-XT 高通量篩選eXTension
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
外部樣品室 XSA（真空或吹掃）
外部真空密閉的超高真空腔室（UHV）
真空PL/PT/PR測量單元
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
大型積分球
自動進樣器
外接遠紅外Hg燈光源
獨一無二的寬帶中紅外-遠紅外分束器和檢測器（BRUKER FM）
外部發射適配器
外部高性能中紅外光源
外部真空4位檢測器腔
適用于遠紅外光譜范圍的輻射熱
