布魯克Bruker LUMOS II 傅立葉變換紅外顯微鏡
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：LUMOS II 技術特點：標準TE-MCT探測器即插即用：無需液氮，無需吹掃可選的焦平面陣列（FPA）成像探測器創新的校準技術 PermaSure+全電動化和自動化硬件允許最大樣品厚度達40毫米包括激光在內的元件壽命長抗高濕度（ZnSe光...
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- 產品介紹
LUMOS II 技術特點：
標準TE-MCT探測器
即插即用：無需液氮，無需吹掃
可選的焦平面陣列（FPA）成像探測器
創新的校準技術 PermaSure+
全電動化和自動化硬件
允許最大樣品厚度達40毫米
包括激光在內的元件壽命長
抗高濕度（ZnSe光學元件）
獨立設計，占地面積小
低功耗
LUMOS II 提供：
軟件引導測量的易用性
高清光譜和視覺數據
高紅外靈敏度，無需液氮
巨大視野和高達亞微米級別的視覺分辨率
超快 FPA 成像性能
FPA 成像 ATR/投射/反射
輕松放置樣品
符合 cGMP 和 FDA 21 CFR p11標準
自動 OQ/PQ/藥典測試
隨時可升級系統
應用
失效分析
顆粒和表面分析
工業制造
法醫學
生命科學
聚合物和塑料
環境科學
制藥
我們相信并努力做到，向所有用戶提供先進的技術。繁瑣的硬件和軟件操作不應該成為限制FTIR顯微和成像技術巨大優勢的因素。
我們稱之為真正的 FPA 成像。為什么？
因為 LUMOS II 通過使 FTIR 成像更快、更容易、更準確、更可靠甚至更有趣來提升 FTIR 成像品質。
為實現這一目標，我們專門為用戶量身定制了 LUMOS II、軟件和用戶界面。初學者也可以立即獲得完美的測試結果，專家則可以利用LUMOS II的無限潛能。
卓越的μ ATR FT-IR 功能
更好的儀器、更好的結果
LUMOS II 在透射和反射測量中的出色結果是顯而易見的。此外，一個值得注意的亮點是衰減全反射 (ATR) 的測量。
簡而言之，LUMOS II ATR模式下的性能是無與倫比的。不要滿足于不可靠的、手動的 ATR 配件 — 要獲得最好的。要擁有 LUMOS。
可伸縮的晶體由高精度壓電電機控制并被集成到透鏡中。這使您可以清楚地看到樣品，并在您選定的位置進行精確測量。
持久和強大的應用
對我們來說，向客戶交付最好的技術是理所應當的事。這也適用于 LUMOS II。
RockSolidTM 干涉儀可確保恒定的性能，而現代電子設備可確保機械精度和低能耗。同時，軟件可監控儀器的有效性并始終確保正確的功能。
