布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀
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簡介：布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀是世界上最高的性能和腐蝕深度計量系統先進技術節點。系統結合了原子力顯微鏡的最新創新,包括力量的專有PeakForce技術、原子力分析器的證明長掃描功能。取代昂貴的晶片漿紗切片,洞察AF...
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布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀是世界上最高的性能和腐蝕深度計量系統先進技術節點。系統結合了原子力顯微鏡的最新創新,包括力量的專有PeakForce®技術、原子力分析器的證明長掃描功能。取代昂貴的晶片漿紗切片,洞察AFP監測腐蝕深度、碟形,在亞微米和侵蝕特性與無與倫比的可重復性。以其激進的增加速度和準確性、力量的第五代法新社提供業界最高的分辨率,最快的分析,快速三維映射死去,亞微米生產和平滑的配置文件。
布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀測量非破壞性和不敏感材料,使分析到10nm節點控制CMP過程。提供最高thorughput可用,系統可以監控每小時15晶片(5網站),1垂直分辨率。布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀系統提供3d的熱點信息,使優化布置熱管的熱性能更好,更高的電效率,降低整體成本。布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀比其他同類儀器提供1-2mm/秒的分析速度,布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀擁有<2小時die-map能力。
如果您需要布魯克Bruker InSight AFP 半導體計量儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
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